BX-G2502高性能便携式超声波检测仪

关键词：BX-G2502高性能便携式超声波检测仪
全自动超声波探伤仪  超声波检测仪  多功能超声波检测仪  多用途超声波检测仪

■仪器特点：

A 特优点

→ 全中文菜单式友好操作界面，方便快捷；

→ 亮彩色液晶显示，可根据不同现场环境改变；

→ 超声衍射波成像检测，解决传统放射检测的扫查

厚度及检测效率局限性，节约探伤成本；

→ 集A扫、B扫成像、C扫成像、P扫成像、TOFD成像、

导波成像等多能一体；

→合成孔径聚焦技术，领潮行业，提高缺陷

测量精度；

→ 波形相位稳定，信噪比高，缺陷识别更清晰；

→ 内置现场检测工艺模型，自动生成检测工艺；

→ 便携扫查器及自动扫查装置代替手工扫查，满足各

种工件检测要求；

→ 多通道TOFD检测实现大厚壁焊缝一次性覆盖；

→ 超大机内存储空间及便捷的文件网络传输功能；

→ 高分子复合材料机身，防震、抗跌落；

→ 集成数据电缆，装卸方便，信号传输损耗小；

→ 高性能安保锂电，模块插接，一机两电，超长续航。

B探伤功能

扫查方式：对焊缝进行非平行、平行扫查

缺陷定位：分析软件直接读出缺陷位置、、自身高度

缺陷显示：直观显示缺陷在工件中的位置及上下端点

Ａ型扫描：射频显示提高仪器对材料中缺陷模式的评价能力

Ｂ扫成像：实时显示缺陷截面形状

Ｃ扫成像：实时显示缺陷俯视成像

Ｄ扫成像：实时显示缺陷的灰度扫查图，直观显示缺陷并对

缺陷质量进行评价

Ｐ扫成像：实时空气超声定位，对缺陷进行三维描述，提高

缺陷判性准确率

导波成像：对薄壁工件进行一维扫查，获取二维成像

C 扫描范围

多路TOFD检测和PE检测覆盖200ｍｍ厚度以内的分区

扫查；可扩展至400ｍｍ厚度。

D 数据分析

直通波去除：近表面缺陷专用处理工具，提高近表缺陷分析精度

横竖调整：满足不同现场操作习惯

ＳＡＦＴ：国际公认提高缺陷测量精度的功能

E数据存储与输出

→预先调校好各类探头与仪器的组合参数，方便存储、调出、离线分析、

复验、打印、通讯传输。

→超大内存容量，单次扫查可多记录40米。

→扫查图像、文件可根据使用要求自动保存、自动编名。

→支持双USB拷贝、网络传输、外接显示器等。

■技术参数：

频带宽度：0.3-22MHz

脉冲电压：－400Ｖ

脉冲前沿：<10ns

重复频率：1000Hz（每通道）

平均次数：8

采样      ：512，1024

匹配阻抗：25，500

检波方式：数字检波

增益范围：0dB－110dB波形显示方式：射频波，

检波（全检、负或正半检波），

信号频谱（FFT）

扫描延时：0~500us可控0.008us精度

扫查定位：时基（内置实时时钟-0.02秒精度）/真实位置（增量编码器-0.5mm精度）

成像模式：根据选择的操作模式和相应的仪器配置及设置显示连续A扫、B扫成像、C扫成像、TOFD成像、P扫成像、导波成像

直线扫查长度：0-40米

记录方式：完全原始数据记录

离线分析：恢复和回放扫查时记录的A扫波形

缺陷尺寸测量和轮廓描述

厚度/幅度数据统计分析

记录转换到ASCⅡ/MS Word/MS Excel

数据报告：直接打印A扫、频谱图、B扫图象、C扫图象、TOFD图象、P扫图象、导波检